微電腦多功能電解測(cè)厚儀 CMS2 /CMS2 STEP 一個(gè)測(cè)量系統(tǒng)包括COULOSCOPE®CMS2或CMS2STEP和一個(gè)有測(cè)量槽的支架(例如:STEP測(cè)量槽) 。各種測(cè)量臺(tái)設(shè)計(jì)適合不同的應(yīng)用。 CMS2可以測(cè)量幾乎所有基材上金屬鍍層的厚度,包括多鍍層結(jié)構(gòu); 在多層鎳的量監(jiān)控中用于對(duì)鍍層厚度和電位差的標(biāo)準(zhǔn)化STEP測(cè)試。
查看詳細(xì)介紹微電腦多功能電解測(cè)厚儀Couloscope CMS2 德國(guó)FISCHER菲希爾COULOSCOPE CMS2庫倫法測(cè)厚儀-----根據(jù)庫侖法測(cè)量鍍層厚度和多層鎳電位差。庫侖法是一種簡(jiǎn)單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。
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