x射線鍍層與合金的材料分析儀 作為在生產(chǎn)測(cè)量中使用X射線熒光法的*驅(qū),菲希爾很早就意識(shí)到此方法在鍍層厚度測(cè)量和材料分析領(lǐng)域的巨大潛力,因而開始研發(fā)和制造工業(yè)級(jí)耐用的測(cè)量?jī)x器
查看詳細(xì)介紹德國(guó)fischer臺(tái)式庫侖測(cè)厚儀中國(guó)代理 多個(gè)鎳涂層的質(zhì)量控制需要測(cè)量裝置,可以在涂層程序之后立即檢查厚度和電化學(xué)電位。 COULOSCOPE®CMS STEP測(cè)量系統(tǒng)由于其簡(jiǎn)單的操作和參考電極的簡(jiǎn)單操作,適用于電鍍廠惡劣環(huán)境中的應(yīng)用,為此已開發(fā)出來。
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